X射线荧光光谱分析法在标准物质均匀性检验方面的实践与应用
均匀性检验是标准物质研制过程中必不可少的程序，是确保量值准确、可靠的基本条件。均匀性检验的目的是判断特性量值在样品不同部位之间是否均匀以及不均匀的程度。可用于均匀性检验的仪器和方法较多，包括电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子吸收分光光度计(AAS)等。X射线荧光光谱仪也是重要的无机元素分析工具，在样品均匀性检验方面应用尤其广泛。其优点主要是制样容易，可同时多元素测定等，缺点主要是干扰因素多。例如，X射线管和高压发生器的稳定性、制样和仪器的漂移等。本文以X射线荧光光谱分析法对合金均匀性检验为例进行叙述。
一、方法选择
均匀性检验的一般过程包括样品的选择、统计分析方法、均匀性判断等几个方面。样品的选择应考虑代表性，应随机从总体样本抽取一定数量的待测样品，数量一般不得少于15个单元，一般为
，N为总体单元数。当N>500时，抽取数为。均匀性检验的统计方法和判断标准如表1所示。
<CTSM> 表1 均匀性检验常用方法</CTSM>
二、实例
以X射线荧光光谱分析法对合金的分析数据为例(见表2)。选取合适的合金样品，利用线切割工艺将原料金属块加工成合适大小的圆片。对于铜合金和锡合金样品，由于原料金属块的形状为细圆柱，截面积较小，在第一步加工完成后，再使用压片机压制为扁圆片，将样品的上下表面用细砂纸进行打磨处理。
<CTSM> 表2 X射线荧光光谱分析法对合金均匀性检验数据</CTSM>
用X射线荧光光谱分析法检测合金中Cr、Cd、Pb、Hg，分别在样品制备前期、中期、后期选取合金柱上端、中端和下端的15片样品，随机选取两点，可以是同一面不同部位的两个点，也可以是两面各选取一个点。每个样品至少独立测量30次，分别选用方差法、平均值一致性检验法进行统计分析。由表2数据可知，除少数样品外，大部分样品的测试数据相对标准偏差(RSD)在10%以内，少数样品因为含量较低，RSD高于10%。此外，数据显示多数样品测试结果方差低于临界值，样品为均匀的，可以满足定值需要。此外，数据表明两种统计方法相结合，有利于发现异常值。
三、结束语
均匀性检验应注意的一般问题:
1.取样的代表性。均匀性检验的基础是样品能够真实反映样本总体的情况，只有选取典型的样品进行分析，才能保证定值的准确、可靠。
2.统计结果应换算为质量分数或浓度。可以方便不同方法的比较和分析，更加直观和明显。
3.均匀性检验方法应与定值方法测试精密度水平相当。当均匀性检验方法测定结果较分散，容易对样品的均匀性造成误判，影响定值结果和不确定度评价。
4.可选用多种统计方法相结合，随着分析科学的发展，也可以结合其他方法综合进行评价。
